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光譜橢偏儀SE-1000

SE-1000型橢偏儀采用手動(dòng)變角裝置來(lái)設定測試的入射角,樣品臺采用手動(dòng)方式,在測試的準確性和靈活性與SE-2000保持一致的情況下,為客戶(hù)提供了一款極具競爭力的橢偏測試設備。另一方面,SE-1000型全光譜橢偏儀采用了新設計的光學(xué)部件以及新版本的測試分析軟件(SAM/SEA),極大地提高了設備的運行穩定性和數據處理能力 與SE-2000平臺一樣,SE-1000光譜橢偏儀

  • 品牌:Semilab
  • 型號:SE-1000

SE-1000型橢偏儀采用手動(dòng)變角裝置來(lái)設定測試的入射角,樣品臺采用手動(dòng)方式,在測試的準確性和靈活性與SE-2000保持一致的情況下,為客戶(hù)提供了一款極具競爭力的橢偏測試設備。另一方面,SE-1000型全光譜橢偏儀采用了新設計的光學(xué)部件以及新版本的測試分析軟件(SAM/SEA),極大地提高了設備的運行穩定性和數據處理能力

  

與SE-2000平臺一樣,SE-1000光譜橢偏儀同時(shí)也是一個(gè)多功能測試平臺,采用模塊化的設計,可集成FTIR紅外光譜測試模組、渦電流法非接觸式或4PP接觸式方塊電阻測試模組、Mueller Matrix各項異性材料測試模組、Raman結晶率測試模組、電子遷移率表征模組、LBIC光誘導電流測試模組、反射干涉測試模組等多種功能,用戶(hù)可根據測試需求合理選擇搭配功能


產(chǎn)品特點(diǎn)

業(yè)界第一家光譜型橢偏儀測試設備廠(chǎng)商

業(yè)界標準測試機構定標設備,參與發(fā)布中華人民共和國橢圓偏振測試技術(shù)標準

針對研發(fā)及實(shí)驗室測試設計,能降低測試成本

模塊化設計,可綜合監控樣品光學(xué)和電學(xué)特性

定期免費升級SOPRA材料數據庫

開(kāi)放光學(xué)模型擬合分析過(guò)程,方便用戶(hù)優(yōu)化測試菜單

主要應用

業(yè)界第一家光譜型橢偏儀測試設備廠(chǎng)商

業(yè)界標準測試機構定標設備,參與發(fā)布中華人民共和國橢圓偏振測試技術(shù)標準

針對研發(fā)及實(shí)驗室測試設計,能降低測試成本

模塊化設計,可綜合監控樣品光學(xué)和電學(xué)特性

定期免費升級SOPRA材料數據庫

開(kāi)放光學(xué)模型擬合分析過(guò)程,方便用戶(hù)優(yōu)化測試菜單


  • 手動(dòng)變角范圍:45°-75°(最小步進(jìn)5°)
  • 光譜范圍:245-990nm
  • 最大樣品尺寸: 200mm
  • 厚度測量范圍:0.01nm-50um(取決于樣品類(lèi)型)

電話(huà):

13816692140

傳真:

021-55127698

郵箱:

naganano@163.com

地址:

上海市虹口區天寶路578號703室